冷热冲击试验箱又名高低温冲击试验箱,冷热循环试验箱;用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业,*工业、航天、业、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具 执行满足标准及试验方法 GJB150.5 温度冲击试验 GJB360.7温度冲击试验 GB/2423.22 温度冲击试验 冷热冲击试验又名温度冲击试验或高低温冲击试验,是用于考核产品对周围环境温度急剧变化的适应性,是装备设计定型的试验和批产阶段的例行试验中不可缺少的试验,在有些情况下也可以用于环境应力筛选试验。可以说冷热冲击试验箱在验证和提高装备的环境适应性方面应用的频度仅次于振动与高低温试验。 冷热冲击试验作为一种测试方法,应用在产品研制的不同阶段时有不同的目的: 工程研制阶段可用于发现产品的设计和工艺缺陷; 产品定型或设计和批产阶段验收决策提供依据; 作为环境应力筛选应用时,目的是剔除产品的早期故障。 常见的执行标准 GJB 150《设备环境试验方法》 GB 2423《电工电子产品基本环境试验规程》
冷热冲击试验箱的作用和特点,冷热冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,*工业、航天、业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,都会用到,是各领域对产品测试的必不可少的一项测试箱。 冷热冲击试验箱的特点有:品外形美观、结构合理、工艺、选材考究,具有简单便利的操作性能和可靠的设备性能。
冷热冲击试验和温湿度循环试验区别比较 冷热冲击试验和温度循环试验都是环境可靠性试验的一种,验证产品在温度变化中质量和稳定性情况。同样对于温度变化的测试,两者区别不同点又在哪里呢?温度冲击试验与温度循环试验的差异主要是应力负荷机理不同。冷热冲击试验主要考察由于蠕变及疲劳损伤引起的失效,而温度循环主要考察由于剪切疲劳引起的失效。 冷热冲击试验 升温/降温速率不低于30℃/分钟。温度变化范围很大,同时试验严酷度还随着温度变化率的增加而增加。 温度冲击试验容许二槽式试验装置,温度循环试验使用单槽式试验装置。在二槽式箱体内,温度变化率要大于50℃/分钟。
引起温度冲击的原因:回流焊、干燥、再加工、修理等制造、修理工艺中剧烈的温度变化。 加速应力试验:加速试验是使用比在实际环境中更短的时间,对试验样品进行的加速试验,以考察其失效机理。试验的加速就是采用加大应力的方法促使试验样品在短期内失效,但是必须避免其他应力引起的失效机理。 温度循环试验 温度循环就是将试验样品暴露于预设的高低温交替的试验环境中。为避免温度冲击的影响,试验时温度变化率必须小于20℃/分钟。同时,为达到蠕变及疲劳损伤的效果,推荐试验温度循环为25℃~100℃,或者也可根据产品的用途使用0℃~100℃的循环试验,曝露时间为各15分钟。 环境应力筛选试验 对产品施加环境应力促使早期失效产品存在的潜在缺陷尽快暴露而予以剔除。
冷热冲击试验介绍
冷热中击试验又名温度中击试验或高低温冲击试验,是将试验样品交替暴露于低温和高温空气(或合适的惰性气体)中,使其经受温度变化的影响。用以确定元件,设备和其他产品经受环境温度迅速变化的能力。是用于考核产品对周围环境温度急剧变化的适应性,是装备设计定型的鉴定试验和批产阶段的例行试验中不可缺少的试验,在有些情况下也可以用于环境应力筛选试验。可以说冷热中击试验箱在验证和提高装备的环境适应性方面应用的频度仅次于振动与高低温试验。
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